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高絕緣電阻率測(cè)試儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測(cè)量?jī)x表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，其他特點(diǎn)與用途見上述專題介紹。
LST-331四探針方阻電阻率測(cè)試儀采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國(guó)標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
絕緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀LST-121超高測(cè)量范圍，量程達(dá)到0-2×1018Ω，取代指針式高阻計(jì)的*佳儀表。 LST-122 絕緣材料體積電阻和表面電阻率測(cè)定儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測(cè)量?jī)x表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，
LST系列高絕緣電阻率測(cè)試儀 絕緣材料體積電阻和表面電阻率測(cè)定儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測(cè)量?jī)x表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，其他特點(diǎn)與用途見上述專題介紹。
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